Semiconductor device testing apparatus and testing method

WO2005078736 Art A1 25. August 2005

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005078736
Aktenzeichen: EP04712214
Anmeldetag: 18. Februar 2004
Veröffentlichung: 25. August 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/00G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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