Skew adjusting method, skew adjusting device, and test instrument
WO2005081004
Art A1
1. September 2005
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005081004
- Aktenzeichen
- EP05719310
- Anmeldetag
- 18. Februar 2005
- Veröffentlichung
- 1. September 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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