Method for cleaning treatment chamber in substrate treating apparatus and method for detecting endpoint of cleaning
WO2005081302
Art A1
1. September 2005
Anmelder: TOKYO ELECTRON LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005081302
- Aktenzeichen
- EP05710294
- Anmeldetag
- 17. Februar 2005
- Veröffentlichung
- 1. September 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/31C23C16/44H01L21/3065
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOKYO ELECTRON LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
6.250 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.