Circuit substrate inspection device and circuit substrate inspection method

WO2005083453 Art A1 9. September 2005

Anmelder: JSR Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005083453
Aktenzeichen: EP05719763
Anmeldetag: 2. März 2005
Veröffentlichung: 9. September 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/02G01R1/06G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: JSR Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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