Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopischen Untersuchung einer Probe
WO2005096058
Art A1
13. Oktober 2005
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005096058
- Aktenzeichen
- EP05701498
- Anmeldetag
- 12. Januar 2005
- Veröffentlichung
- 13. Oktober 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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