Electron beam interference device and electron microscope

WO2005098896 Art A1 20. Oktober 2005

Anmelder: RIKEN 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005098896
Aktenzeichen: EP05720137
Anmeldetag: 7. März 2005
Veröffentlichung: 20. Oktober 2005
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/295H01J37/21

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: RIKEN
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 RIKEN

Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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