Method and device for measuring high-frequency electric characteristic of an electronic part and method for calibrating a high-frequency electric characteristic measurement device

WO2005101033 Art A1 27. Oktober 2005

Anmelder: MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005101033
Aktenzeichen: EP04807442
Anmeldetag: 21. Dezember 2004
Veröffentlichung: 27. Oktober 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01R27/26G01R27/28

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Murata Manufacturing

Japanisches Elektronikunternehmen mit Sitz in Kyoto. Murata entwickelt und produziert elektronische Bauelemente wie Kondensatoren, Sensoren und Kommunikationsmodule für Elektronikgeräte.

13.704 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von