Micro thermal chamber having proximity control temperature management for devices under test
WO2005101040
Art A1
27. Oktober 2005
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005101040
- Aktenzeichen
- EP05734246
- Anmeldetag
- 13. April 2005
- Veröffentlichung
- 27. Oktober 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/317G01R31/319G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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