Quantum beam aided atomic force microscopy and quantum beam aided atomic force microscope

WO2005103647 Art A1 3. November 2005

Anmelder: Japan Science and Technology Agency 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005103647
Aktenzeichen: EP04807449
Anmeldetag: 21. Dezember 2004
Veröffentlichung: 3. November 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N13/16

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Firma: Japan Science and Technology Agency
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Japan Science and Technology Agency

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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