Method and device for measuring whether a process kit part meets a prescribed tolerance
WO2005114091
Art A2
1. Dezember 2005
Anmelder: Tokyo Electron Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005114091
- Aktenzeichen
- EP05712458
- Anmeldetag
- 27. Januar 2005
- Veröffentlichung
- 1. Dezember 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B3/00G01M19/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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