Method of preparing specimen for estimation of crystal property and method of estimating crystal property

WO2005116608 Art A1 8. Dezember 2005

Anmelder: NIKON CORPORATION, Sasaki, Takatomo, Mori, Yusuke, Takano, Kazufumi, Inoue, Tsuyoshi, Matsumura, Hiroyoshi 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005116608
Aktenzeichen: EP05745998
Anmeldetag: 30. Mai 2005
Veröffentlichung: 8. Dezember 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N1/28G01N23/20

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: NIKON CORPORATION
Sasaki, Takatomo
Mori, Yusuke
Takano, Kazufumi
Inoue, Tsuyoshi
Matsumura, Hiroyoshi
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

5.286 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von