X-ray inspection apparatus

WO2005121757 Art A1 22. Dezember 2005

Anmelder: ISHIDA CO., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005121757
Aktenzeichen: EP05727137
Anmeldetag: 25. März 2005
Veröffentlichung: 22. Dezember 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/18

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: ISHIDA CO., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Ishida

Japanisches Unternehmen für Wäge- und Verpackungstechnik mit Sitz in Kyoto. Ishida entwickelt Waagen, Verpackungsmaschinen und Inspektionssysteme für die Lebensmittelindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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