Timing generator and semiconductor testing apparatus
WO2005121827
Art A1
22. Dezember 2005
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005121827
- Aktenzeichen
- EP05751210
- Anmeldetag
- 6. Juni 2005
- Veröffentlichung
- 22. Dezember 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/3183
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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