Surface Plasmon Resonance Phenomenon Measuring Equipment

WO2005124318 Art A1 29. Dezember 2005

Anmelder: Muroran Institute of Technology, National University Corporation, Kyushu University, National University Corporation, Mebius Advanced Technology Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005124318
Aktenzeichen: EP05755701
Anmeldetag: 17. Juni 2005
Veröffentlichung: 29. Dezember 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/27G01N21/55

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Muroran Institute of Technology, National University Corporation
Kyushu University, National University Corporation
Mebius Advanced Technology Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kyushu University

Kyushu University ist eine staatliche Universität in Fukuoka, Japan, mit Forschungsschwerpunkten in Natur- und Ingenieurwissenschaften.

878 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von