Optically reconfigurable gate array write state inspection method, write state inspection device, and optically reconfigurable gate array

WO2005125013 Art A1 29. Dezember 2005

Anmelder: Japan Science and Technology Agency, Kyushu Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005125013
Aktenzeichen: EP05751525
Anmeldetag: 16. Juni 2005
Veröffentlichung: 29. Dezember 2005
Rechtsraum: WO
IPC: H03K19/173G01R31/317H01L21/82

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Firmen: Japan Science and Technology Agency
Kyushu Institute of Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Japan Science and Technology Agency

Japanische staatliche Förderorganisation für Wissenschaft und Technologie, die Forschungsprojekte finanziert und den Technologietransfer zwischen Universitäten und Industrie unterstützt. Die Behörde untersteht dem japanischen Bildungsministerium.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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