Signal readout system and test equipment

WO2005125187 Art A1 29. Dezember 2005

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005125187
Aktenzeichen: EP05751402
Anmeldetag: 16. Juni 2005
Veröffentlichung: 29. Dezember 2005
Rechtsraum: WO
IPC: H04N5/335G01R31/26H01L27/14H01L27/148H04N17/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von

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