Method of making a semiconductor device having a strained semiconductor layer

WO2006007081 Art A2 19. Januar 2006

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006007081
Aktenzeichen: EP05754156
Anmeldetag: 11. Mai 2005
Veröffentlichung: 19. Januar 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/425

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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