Jitter application circuit, and test device

WO2006008908 Art A1 26. Januar 2006

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006008908
Aktenzeichen: EP05752960
Anmeldetag: 24. Juni 2005
Veröffentlichung: 26. Januar 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H03K5/156G01R31/30G01R31/3183H03L7/18

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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