Methods and apparatus for optimal temperature control in a plasma processing system
WO2006012021
Art A2
2. Februar 2006
Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006012021
- Aktenzeichen
- EP05773459
- Anmeldetag
- 14. Juni 2005
- Veröffentlichung
- 2. Februar 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C23F1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- LAM RESEARCH CORPORATION
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Lam Research
US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.
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