Treatment of silicon prior to nickel silicide formation
WO2006020737
Art A1
23. Februar 2006
Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006020737
- Aktenzeichen
- EP05784850
- Anmeldetag
- 10. August 2005
- Veröffentlichung
- 23. Februar 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L29/12H01L29/76H01L21/283H01L31/062H01L23/48
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Texas Instruments Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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