Method of analyzing dna sequence using field-effect device, and base sequence analyzer
WO2006022370
Art A1
2. März 2006
Anmelder: National Institute for Materials Science 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006022370
- Aktenzeichen
- EP05781022
- Anmeldetag
- 26. August 2005
- Veröffentlichung
- 2. März 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C12Q1/68C12M1/00G01N27/414// C12N15/09
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute for Materials Science
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute for Materials Science
Japanisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Tsukuba, das auf Materialwissenschaft und Werkstoffforschung spezialisiert ist.
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