Probe pad arrangement for an integrated circuit and method of forming

WO2006023034 Art A2 2. März 2006

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006023034
Aktenzeichen
EP05762508
Anmeldetag
20. Juni 2005
Veröffentlichung
2. März 2006
Rechtsraum
WO
IPC
H01L23/48
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Freescale Semiconductor, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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