Variable delay circuit, macro cell data, logic verifying method, testing method, and electronic device

WO2006025285 Art A1 9. März 2006

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006025285
Aktenzeichen: EP05774548
Anmeldetag: 26. August 2005
Veröffentlichung: 9. März 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/82G01R31/317

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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