Abnormality diagnosis device and abnormality diagnosis method

WO2006030786 Art A1 23. März 2006

Anmelder: NSK LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006030786
Aktenzeichen: EP05783187
Anmeldetag: 13. September 2005
Veröffentlichung: 23. März 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01M19/00G01M13/04G01H17/00F16C19/52

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NSK LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NSK

Japanischer Hersteller von Wälzlagern und Präzisionsmaschinenkomponenten mit Sitz in Tokio, unter anderem für Automobil- und Industrieanwendungen.

2.336 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Maschinenelemente & Fluidtechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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