Ink composition for etching resist, method of forming etching resist pattern using the same, and method of formng microchannel using the ink composition

WO2006031079 Art A1 23. März 2006

Anmelder: LG Chem, Ltd. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006031079
Aktenzeichen
EP05808778
Anmeldetag
15. September 2005
Veröffentlichung
23. März 2006
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/027
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
LG Chem, Ltd.
Land
🇰🇷 Südkorea
🇰🇷 LG Chem

Südkoreanisches Chemieunternehmen, das Batteriematerialien, Kunststoffe, petrochemische Produkte und pharmazeutische Wirkstoffe herstellt.

8.764 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen