Method of testing a semiconductor device and a test system to test a semiconductor device

WO2006032483 Art A1 30. März 2006

Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006032483
Aktenzeichen: EP05797725
Anmeldetag: 21. September 2005
Veröffentlichung: 30. März 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3187

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Infineon Technologies AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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