Delay lock loop circuit, phase lock loop circuit, timing generator, semiconductor tester and semiconductor integrated circuit

WO2006033203 Art A1 30. März 2006

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006033203
Aktenzeichen: EP05768428
Anmeldetag: 3. August 2005
Veröffentlichung: 30. März 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H03L7/087H03L7/081G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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