Circuit device inspecting electrode apparatus, method for manufacturing the same and circuit device inspecting apparatus

WO2006035856 Art A1 6. April 2006

Anmelder: JSR Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006035856
Aktenzeichen: EP05788258
Anmeldetag: 29. September 2005
Veröffentlichung: 6. April 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/06

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: JSR Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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