Program, test apparatus and testing method
WO2006036035
Art A1
6. April 2006
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006036035
- Aktenzeichen
- EP05790344
- Anmeldetag
- 30. September 2005
- Veröffentlichung
- 6. April 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/3193
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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