Improving short channel effect of mos devices by retrograde well engineering using tilted dopant implantation into recessed source/drain regions

WO2006039641 Art A2 13. April 2006

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006039641
Aktenzeichen
EP05803847
Anmeldetag
29. September 2005
Veröffentlichung
13. April 2006
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/336H01L29/78H01L21/265
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Intel Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

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