Conductive pad design modification for better wafer-pad contact

WO2006041889 Art A2 20. April 2006

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006041889
Aktenzeichen
EP05807507
Anmeldetag
5. Oktober 2005
Veröffentlichung
20. April 2006
Rechtsraum
WO
IPC
B24B37/04H01L21/321
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Applied Materials, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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