Conductive pad design modification for better wafer-pad contact
WO2006041889
Art A2
20. April 2006
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006041889
- Aktenzeichen
- EP05807507
- Anmeldetag
- 5. Oktober 2005
- Veröffentlichung
- 20. April 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B24B37/04H01L21/321
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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