Anisotropic conductive connector for inspecting wafer, manufacturing method thereof, waver inspection probe card, manufacturing method thereof, and wafer inspection device

WO2006043631 Art A1 27. April 2006

Anmelder: JSR Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006043631
Aktenzeichen: EP05795851
Anmeldetag: 20. Oktober 2005
Veröffentlichung: 27. April 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H01R43/00H01R11/01

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: JSR Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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