Pattern testing apparatus, pattern testing method, and pattern testing program

WO2006049243 Art A1 11. Mai 2006

Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006049243
Aktenzeichen: EP05800268
Anmeldetag: 4. November 2005
Veröffentlichung: 11. Mai 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01B11/30G03F1/08G06T1/00H01L21/027

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEC Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

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