Test equipment and test method of semiconductor memory having a plurality of banks
WO2006051666
Art A1
18. Mai 2006
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006051666
- Aktenzeichen
- EP05793184
- Anmeldetag
- 13. Oktober 2005
- Veröffentlichung
- 18. Mai 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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