Apparatus and methods for two-dimensional ion beam profiling

WO2006052622 Art A2 18. Mai 2006

Anmelder: Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006052622
Aktenzeichen
EP05826131
Anmeldetag
3. November 2005
Veröffentlichung
18. Mai 2006
Rechtsraum
WO
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc.

Varian Semiconductor Equipment Associates war ein US-amerikanischer Hersteller von Halbleiteranlagen, seit 2011 Teil von Applied Materials. Die Patente betreffen Ionenimplantation und Halbleiterfertigung.

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