Method for forming photoresist pattern using double layer antireflection film
WO2006059452
Art A1
8. Juni 2006
Anmelder: Nissan Chemical Industries, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006059452
- Aktenzeichen
- EP05805485
- Anmeldetag
- 1. November 2005
- Veröffentlichung
- 8. Juni 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/11C08G59/40H01L21/027
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nissan Chemical Industries, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nissan Chemical Corporation
Japanisches Chemieunternehmen mit Sitz in Tokio, das agrochemische Wirkstoffe, elektronische Materialien sowie Feinchemikalien für die Halbleiterindustrie herstellt. Das Unternehmen wurde 1887 gegründet und hieß bis 2015 Nissan Chemical Industries.
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