Electronic component handling device and defective component determination method
WO2006059553
Art A1
8. Juni 2006
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006059553
- Aktenzeichen
- EP05809588
- Anmeldetag
- 25. November 2005
- Veröffentlichung
- 8. Juni 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/26G01B11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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