Verfahren zur Auswahl einer Wellenl[nge und Mikroskop

WO2006061359 Art A1 15. Juni 2006

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006061359
Aktenzeichen: EP05813427
Anmeldetag: 2. Dezember 2005
Veröffentlichung: 15. Juni 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/64G02B21/16G02B21/06

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von