A method for making a semiconductor device with a high-k gate dielectric and a metal gate electrode

WO2006063269 Art A2 15. Juni 2006

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006063269
Aktenzeichen
EP05853578
Anmeldetag
7. Dezember 2005
Veröffentlichung
15. Juni 2006
Rechtsraum
WO
IPC
H01L29/51H01L21/336H01L21/8238H01L21/28
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Intel Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

26.631 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen