Method for measurement of wavefront aberrations in coherent light and correction of the effects of said aberrations
WO2006067072
Art A1
29. Juni 2006
Anmelder: THALES 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006067072
- Aktenzeichen
- EP05821558
- Anmeldetag
- 13. Dezember 2005
- Veröffentlichung
- 29. Juni 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B26/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- THALES
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Thales
Französischer Technologiekonzern mit Sitz in Paris, aktiv in Luft- und Raumfahrt, Verteidigungstechnik, Sicherheitstechnologie sowie Bahn- und Kommunikationssystemen für zivile und militärische Anwendungen.
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