Multi-layer high quality gate dielectric for low-temperature poly-silicon tfts
WO2006073568
Art A2
13. Juli 2006
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006073568
- Aktenzeichen
- EP05856960
- Anmeldetag
- 15. November 2005
- Veröffentlichung
- 13. Juli 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C23C16/00H05H1/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
10.783 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.