Method for reducing critical dimensions using multiple masking steps

WO2006083592 Art A1 10. August 2006

Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006083592
Aktenzeichen: EP06719128
Anmeldetag: 20. Januar 2006
Veröffentlichung: 10. August 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/027H01L21/31H01L21/3213H01L21/308H01L21/3065

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: LAM RESEARCH CORPORATION
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Lam Research

US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von