Lidded microchip for analysis, method for treatment of sample of said lidded microchip, method for automatic sample treatment of said lidded microchip, automatic sample treatment apparatus based on said treatment method, and substance analyzer to which said automatic sample treatment method has been
WO2006085604
Art A1
17. August 2006
Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006085604
- Aktenzeichen
- EP06713476
- Anmeldetag
- 10. Februar 2006
- Veröffentlichung
- 17. August 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N35/08G01N1/10G01N27/447G01N37/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NEC Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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