Glass substrate inspection equipment and inspection method
WO2006088150
Art A1
24. August 2006
Anmelder: CENTRAL GLASS COMPANY, LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006088150
- Aktenzeichen
- EP06714006
- Anmeldetag
- 17. Februar 2006
- Veröffentlichung
- 24. August 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/958
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CENTRAL GLASS COMPANY, LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Central Glass
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das Flachglas, Spezialglas sowie Fluorchemikalien für Industrie und Bauwesen herstellt.
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