An inspection apparatus and method of a electronic device

WO2006088264 Art A1 24. August 2006

Anmelder: Samsung Electronics Co., Ltd 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006088264
Aktenzeichen: EP05726537
Anmeldetag: 28. Januar 2005
Veröffentlichung: 24. August 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G06F19/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Samsung Electronics Co., Ltd
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Samsung Electronics

Südkoreanischer Elektronikkonzern und Teil der Samsung-Gruppe. Entwickelt und produziert Halbleiter, Speicherchips, Displays, Smartphones, Unterhaltungselektronik sowie Haushaltsgeräte für den globalen Markt.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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