Verfahren und Vorrichtung zur Inaktivierung von Trapping-Effekten in Dotierten Halbleitern

WO2006092321 Art A1 8. September 2006

Anmelder: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., Universität Freiburg 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006092321
Aktenzeichen: EP06723205
Anmeldetag: 3. März 2006
Veröffentlichung: 8. September 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/268

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Universität Freiburg
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Fraunhofer-Gesellschaft

Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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