Chip for optical analysis, method for manufacturing the same, optical analyzer, and optical analyzing method
WO2006093055
Art A1
8. September 2006
Anmelder: National Institute for Materials Science 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006093055
- Aktenzeichen
- EP06714628
- Anmeldetag
- 24. Februar 2006
- Veröffentlichung
- 8. September 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/64G01N21/65
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute for Materials Science
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute for Materials Science
Japanisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Tsukuba, das auf Materialwissenschaft und Werkstoffforschung spezialisiert ist.
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