Testverfahren und Herstellungsverfahren für eine aus Teilschaltungen Zusammengesetzte Halbleiterschaltung

WO2006094522 Art A1 14. September 2006

Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006094522
Aktenzeichen: EP05715740
Anmeldetag: 4. März 2005
Veröffentlichung: 14. September 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G06F17/50G01R31/319

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Infineon Technologies AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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