X-ray diffraction analyzing method and analyzer
WO2006095467
Art A1
14. September 2006
Anmelder: National Institute for Materials Science 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006095467
- Aktenzeichen
- EP05788297
- Anmeldetag
- 22. September 2005
- Veröffentlichung
- 14. September 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/207
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute for Materials Science
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute for Materials Science
Japanisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Tsukuba, das auf Materialwissenschaft und Werkstoffforschung spezialisiert ist.
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