Scanning probe microscope and its measuring method

WO2006098123 Art A1 21. September 2006

Anmelder: Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006098123
Aktenzeichen
EP06714282
Anmeldetag
22. Februar 2006
Veröffentlichung
21. September 2006
Rechtsraum
WO
IPC
G01N13/10G01N13/16
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Hitachi Construction Machinery Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Hitachi Construction Machinery

Japanischer Hersteller von Baumaschinen wie Baggern und Radladern mit Sitz in Tokio, Teil der Hitachi-Unternehmensgruppe.

1.712 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen